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扫描隧道显微镜和原子力显微镜区别

1、AFM，英文全称：AtomicForceMicroscope，中文称：原子力显微镜。工作原理不同 1．扫描电子显微镜的原理是用高能电子束对样品进行扫描，产生各种各样的物理信息。通过接收、放大和显示这些信息，可以观察到试样的表面形貌。

2、与扫描隧道显微镜相比，原子力X激光显微镜不仅可检测导体，而且可检测绝缘体，并由接触式改进为非接触式。

3、分辨率介于光学显微镜与透射电镜之间，可达3nm。（六）电子束对样品的损伤与污染程度较小。（七）在观察形貌的同时，还可利用从样品发出的其他信号作微区成分分析。

4、揭示微观世界的神秘面纱：扫描隧道显微镜与原子力显微镜的奥秘解析当我们谈论科学研究中那些探索微观世界的关键工具，扫描隧道显微镜（STM）与原子力显微镜（AFM）无疑是其中的双子星。今天，我们将深入剖析这两种精密仪器的基本原理，带你领略微观世界的微观世界。

5、完成对表面的刻蚀、修饰以及直接书写等。目前扫描隧道显微镜取得了一系列新进展，出现了原子力显微镜ＡＦＭ、弹道电子发射显微镜ＢＥＥＭ、光子扫描隧道显微镜ＰＳＴＭ，以及扫描近场光学显微镜ＳＮＯＭ等。 或者用一个金属针尖在在样品表面扫描。

6、朋友，扫描隧道显微镜（STM）和原子力显微镜（AFM）统称为扫描探针显微镜（SPM），用STM和AFM观察一种新矿物Au2Te，如果样品满足实验要求（样品表面的粗糙度/起伏不超过5微米）的话，都可以在微纳米范围（几十微米至几十纳米）得到样品表面的形貌。

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